Nepřihlášený uživatelKOŠÍK : 0.00 Kč (počet položek : 0)

MENU

  • Titulní strana
  • Košík
  • Novinky
  • Ke stažení

Hledání

    

Sortiment - NORMY

  • Normy ČSN
  • Aktuální nabídka
  • Starší nabídky
  • Jak nakupovat

Sortiment - OSTATNÍ

  • Publikace ČNI (1)
  • Normy TPG (1)
  • Normy TNV (76)
  • Ekonomika (17)
    - SAGIT (15)
    - ANAG (1)
    - GRADA (1)
    - Ostatní (0)
  • Zdvihací zařízení (22)
  • Literatura manažer (10)
    - Jakost (3)
    - Obchod (5)
    - Různé (2)
  • Publikace ekologie (0)
  • Doplňkový prodej (1)
    - Publikace DTO CZ (0)
    - Různé (1)

OBJEDNÁVKY

  • Stav objednávky

PŘIHLÁŠENÍ

Jméno:
  Heslo:

  • Registrace
  • Zapomenuté heslo

DŮLEŽITÉ INFORMACE

  • Aktuální ceník norem
  • Obchodní podmínky
  • Ochrana osobních dat
  • FAQ nejčastější dotazy
  • Kde nás najdete

Ostatní

Tyto stránky jsou kompatibilní s
IE 6 a výše, Opera 9.02.

 

Detail zboží

358799 - ČSN EN IEC 60749-28 ed. 2 - Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 28: Zkoušení citlivosti na elektrostatický výboj (ESD) - Model nabité součástky (CDM) - úroveň součástky

Název : 358799 - ČSN EN IEC 60749-28 ed. 2 - Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 28: Zkoušení citlivosti na elektrostatický výboj (ESD) - Model nabité součástky (CDM) - úroveň součástky
Označení normy : ČSN EN IEC 60749-28 ed. 2
Katalogové číslo : 515142
Třídící znak : 358799
Účinnost : 2022-12-01
Věstník : 2022.11
Strany : 60
Převzata :převzetím originálu - v angličtině
Cena :541.00 Kč (DPH= 0%), s DPH= 541.00 Kč
ks
ANOTACE

"ČSN EN IEC 60749-28 ed. 2

Tato norma stanoví postup pro zkoušení, vyhodnocování a klasifikaci součástek a mikroobvodů podle jejich náchylnosti (citlivosti) na poškození nebo degradaci vystavením definovanému indukovanému poli elektrostatického výboje (ESD) modelu nabité součástky (CDM). Všechny zapouzdřené polovodičové součástky, tenkovrstvé obvody, součástky s povrchovou akustickou vlnou (SAW), optoelektronické součástky, hybridní integrované obvody (HIC) a vícečipové moduly (MCM) obsahující některé z těchto součástek, budou hodnoceny podle tohoto dokumentu. K provedení zkoušek jsou součástky sestaveny do pouzdra, který je podobný očekávanému konečnému použití. Tento dokument CDM se nevztahuje na model vybíjení pomocí paticového zkušebního zařízení. Tento dokument popisuje metodu indukce polem (FI). Jiná metoda (metoda přímého kontaktu (DC)) je popsána v příloze J.
Účelem tohoto dokumentu je stanovit zkušební metodu, která bude opakovaně vyvolávat poruchy CDM a poskytovat spolehlivé, opakovatelné výsledky zkoušek ESD CDM z jednotlivých zkušebních zařízení bez ohledu na typ součástky. Opakovatelné údaje budou umožňovat přesné klasifikace a srovnání úrovní citlivosti ESD CDM."

Zpět

Copyright DTO CZ s.r.o.