Nepřihlášený uživatelKOŠÍK : 0.00 Kč (počet položek : 0)

MENU

  • Titulní strana
  • Košík
  • Novinky
  • Ke stažení

Hledání

    

Sortiment - NORMY

  • Normy ČSN
  • Aktuální nabídka
  • Starší nabídky
  • Jak nakupovat

Sortiment - OSTATNÍ

  • Publikace ČNI (1)
  • Normy TPG (1)
  • Normy TNV (76)
  • Ekonomika (17)
    - SAGIT (15)
    - ANAG (1)
    - GRADA (1)
    - Ostatní (0)
  • Zdvihací zařízení (22)
  • Literatura manažer (10)
    - Jakost (3)
    - Obchod (5)
    - Různé (2)
  • Publikace ekologie (0)
  • Doplňkový prodej (1)
    - Publikace DTO CZ (0)
    - Různé (1)

OBJEDNÁVKY

  • Stav objednávky

PŘIHLÁŠENÍ

Jméno:
  Heslo:

  • Registrace
  • Zapomenuté heslo

DŮLEŽITÉ INFORMACE

  • Aktuální ceník norem
  • Obchodní podmínky
  • Ochrana osobních dat
  • FAQ nejčastější dotazy
  • Kde nás najdete

Ostatní

Tyto stránky jsou kompatibilní s
IE 6 a výše, Opera 9.02.

 

Detail zboží

038187 - ČSN EN ISO 9220 - Kovové povlaky - Měření tloušťky povlaku - Metoda rastrovacím elektronovým mikroskopem

Název : 038187 - ČSN EN ISO 9220 - Kovové povlaky - Měření tloušťky povlaku - Metoda rastrovacím elektronovým mikroskopem
Označení normy : ČSN EN ISO 9220
Katalogové číslo : 515719
Třídící znak : 038187
Účinnost : 2022-10-01
Věstník : 2022.09
Strany : 20
Cena :228.00 Kč (DPH= 0%), s DPH= 228.00 Kč
ks
ANOTACE

"ČSN EN ISO 9220

Norma specifikuje destruktivní metodu měření místní tloušťky kovových a jiných anorganických povlaků na výbrusu rastrovacím elektronovým mikroskopem. Tato metoda je použitelná pro povlaky o tloušťce do několika milimetrů, pro takové povlaky o velké tloušťce je však obvykle praktičtější použít světelný mikroskop. Dolní mez tloušťky závisí na dosažené nejistotě měření.
Tuto metodu lze použít i pro organické povlaky, jestliže při přípravě výbrusu ani působením elektronového paprsku při zobrazení nedojde k jejich poškození."

Zpět

Copyright DTO CZ s.r.o.