Nepřihlášený uživatelKOŠÍK : 0.00 Kč (počet položek : 0)

MENU

  • Titulní strana
  • Košík
  • Novinky
  • Ke stažení

Hledání

    

Sortiment - NORMY

  • Normy ČSN
  • Aktuální nabídka
  • Starší nabídky
  • Jak nakupovat

Sortiment - OSTATNÍ

  • Publikace ČNI (1)
  • Normy TPG (1)
  • Normy TNV (76)
  • Ekonomika (17)
    - SAGIT (15)
    - ANAG (1)
    - GRADA (1)
    - Ostatní (0)
  • Zdvihací zařízení (22)
  • Literatura manažer (10)
    - Jakost (3)
    - Obchod (5)
    - Různé (2)
  • Publikace ekologie (0)
  • Doplňkový prodej (1)
    - Publikace DTO CZ (0)
    - Různé (1)

OBJEDNÁVKY

  • Stav objednávky

PŘIHLÁŠENÍ

Jméno:
  Heslo:

  • Registrace
  • Zapomenuté heslo

DŮLEŽITÉ INFORMACE

  • Aktuální ceník norem
  • Obchodní podmínky
  • Ochrana osobních dat
  • FAQ nejčastější dotazy
  • Kde nás najdete

Ostatní

Tyto stránky jsou kompatibilní s
IE 6 a výše, Opera 9.02.

 

Detail zboží

014451 - ČSN EN ISO 25178-73 - Geometrické specifikace produktu (GPS) - Textura povrchu: Plocha - Část 73: Termíny a definice pro povrchové vady na ztělesněných mírách

Název : 014451 - ČSN EN ISO 25178-73 - Geometrické specifikace produktu (GPS) - Textura povrchu: Plocha - Část 73: Termíny a definice pro povrchové vady na ztělesněných mírách
Označení normy : ČSN EN ISO 25178-73
Katalogové číslo : 508284
Třídící znak : 014451
Účinnost : 2020-01-01
Věstník : 2019.12
Strany : 24
Převzata :vyhlášením ve Věstníku - v angličtině
TATO NORMA JE NEPLATNÁ
Cena :335.00 Kč (DPH= 0%), s DPH= 335.00 KčNelze zakoupit
ANOTACE

"ČSN EN ISO 25178-73


This document defines classes of geometrical defects that might be present on the surfaces of material measures and calibration specimens conforming to ISO 5436-1 and ISO 25178-70, and defines terms for ways of responding to these defects.

This document is applicable as follows:
a) to help customers and users of material measures for surface metrology specify their nominal features (ideal geometrical properties) when obtaining them from manufacturers and suppliers;
b) to enable users of material measures to formulate their own rules and policies for responding to the occurrence of defects in such a way as to minimize the uncertainty of their own measurements;

NOTE Such policies are required in ISO/IEC 17025:2017, 7.2.1.1, 7.2.1.3, 7.3.1 and 7.8.5 c) and d), for example.
c) to enable calibration laboratories and their customers to agree on a common policy on how to treat defects on a material measure that has been sent for calibration;
d) to educate users of material measures about the different significance and importance of different kinds of defect;
e) for other GPS standards which make reference to the issue of selection of measuring locations, or selection of areas to be measured or avoided in measurement."

Zpět

Copyright DTO CZ s.r.o.