Nepřihlášený uživatelKOŠÍK : 0.00 Kč (počet položek : 0)

MENU

  • Titulní strana
  • Košík
  • Novinky
  • Ke stažení

Hledání

    

Sortiment - NORMY

  • Normy ČSN
  • Aktuální nabídka
  • Starší nabídky
  • Jak nakupovat

Sortiment - OSTATNÍ

  • Publikace ČNI (1)
  • Normy TPG (1)
  • Normy TNV (76)
  • Ekonomika (17)
    - SAGIT (15)
    - ANAG (1)
    - GRADA (1)
    - Ostatní (0)
  • Zdvihací zařízení (22)
  • Literatura manažer (10)
    - Jakost (3)
    - Obchod (5)
    - Různé (2)
  • Publikace ekologie (0)
  • Doplňkový prodej (1)
    - Publikace DTO CZ (0)
    - Různé (1)

OBJEDNÁVKY

  • Stav objednávky

PŘIHLÁŠENÍ

Jméno:
  Heslo:

  • Registrace
  • Zapomenuté heslo

DŮLEŽITÉ INFORMACE

  • Aktuální ceník norem
  • Obchodní podmínky
  • Ochrana osobních dat
  • FAQ nejčastější dotazy
  • Kde nás najdete

Ostatní

Tyto stránky jsou kompatibilní s
IE 6 a výše, Opera 9.02.

 

Detail zboží

727504 - ČSN EN ISO 13383-2 - Jemná keramika (speciální keramika, speciální technická keramika) - Mikrostrukturální charakteristika - Část 2: Stanovení objemového podílu fází vyhodnocením mikrosnímků

Název : 727504 - ČSN EN ISO 13383-2 - Jemná keramika (speciální keramika, speciální technická keramika) - Mikrostrukturální charakteristika - Část 2: Stanovení objemového podílu fází vyhodnocením mikrosnímků
Označení normy : ČSN EN ISO 13383-2
Katalogové číslo : 500442
Třídící znak : 727504
Účinnost : 2016-11-01
Věstník : 2016.10
Strany : 24
Převzata :vyhlášením ve Věstníku - v angličtině
Cena :335.00 Kč (DPH= 0%), s DPH= 335.00 Kč
ks
ANOTACE

"CSN EN ISO 13383-2

This part of EN ISO 13383 specifies a manual method of making measurements for the determination of the volume fraction of major phases in fine ceramics (advanced ceramics, advanced technical ceramics) using micrographs of polished and etched sections, overlaying a square grid of lines, and counting the number of intersections lying over each phase. The method applies to ceramics with one or more distinct secondary phases, such as found in Al2O3/ZrO2, Si/SiC, or Al2O3/SiCw. If the test material contains discrete pores, these are to be treated as a secondary phase for the purpose of this method, provided that there is no evidence of grain pluck-out during polishing being confused with genuine pores. Some users of this part of EN ISO 13383 may wish to apply automatic or semiautomatic image analysis to micrographs or directly captured microstructural images. This is currently outside the scope of this part, but some guidelines are given in Annex A."

Zpět

Copyright DTO CZ s.r.o.