Detail zboží
011678 - ČSN ISO 13473-4 - Popis textury vozovky pomocí profilů povrchu - Část 4: Třetinooktávová spektrální analýza profilů povrchu | ||
| Název : 011678 - ČSN ISO 13473-4 - Popis textury vozovky pomocí profilů povrchu - Část 4: Třetinooktávová spektrální analýza profilů povrchu
Označení normy : ČSN ISO 13473-4 Katalogové číslo : 520662 Třídící znak : 011678 Účinnost : 2025-03-01 Věstník : 2025.02 Strany : 52 Převzata :převzetím originálu - v angličtině | ||
| Cena : | 541.00 Kč (DPH= 0%), s DPH= 541.00 Kč | |
| ANOTACE "ČSN ISO 13473-4 Tento dokument popisuje metody, které jsou dostupné k provedení spektrální analýzy profilu povrchu vozovky. Stanovuje způsob provádění prostorové frekvenční analýzy (nebo analýzy vlnové délky textury) dvourozměrných profilů povrchu vozovky, která popisuje amplitudu textury ve vztahu ke vzdálenosti podél přímé nebo zakřivené trajektorie na vozovce. Uvádí také podrobnosti k alternativní (nepreferované) metodě pro získání těchto spekter: a) digitální filtrace v pásmech s konstantní procentní šířkou (normativní metoda); b) úzkopásmová frekvenční analýza v pásmech s konstantní šířkou s využitím diskrétní Fourierovy transformace (DFT), doplněná transformací úzkopásmového spektra na oktávové nebo třetinooktávové spektrum (informativní). Výsledkem frekvenční analýzy bude prostorové frekvenční spektrum (vlnová délka textury) v pásmech s konstantní procentní šířkou pásma příslušného oktávového nebo třetinooktávového pásma. Záměrem tohoto dokumentu je standardizování spektrálního popisu profilů povrchu vozovky. Tento záměr je podpořen poskytnutím podrobného popisu metod analýzy a příslušných požadavků pro ty, kteří se zabývají charakterizováním vozovky, ale nejsou obeznámeni obecnými principy frekvenční analýzy náhodných signálů. Tyto metody a požadavky jsou obecně použitelné pro všechny druhy náhodných signálů; v tomto dokumentu jsou však zpracovány pro jejich využití při analýze profilu povrchu vozovky. Spektrální analýza, která je stanovena v tomto dokumentu, nemůže vyjádřit všechny charakteristiky studovaného profilu povrchu. Zejména účinky asymetrie profilu, např. rozdíl určitých funkčních kvalit v případě "kladných" a "záporných" profilů, nemohou být vyjádřeny výkonovou spektrální hustotou, poněvadž ta nezohledňuje asymetrii signálu (viz příloha B)." | ||