Detail zboží
364604 - ČSN EN IEC 60904-1 ed. 3 - Fotovoltaické součástky - Část 1: Měření fotovoltaických voltampérových charakteristik | ||
| Název : 364604 - ČSN EN IEC 60904-1 ed. 3 - Fotovoltaické součástky - Část 1: Měření fotovoltaických voltampérových charakteristik
Označení normy : ČSN EN IEC 60904-1 ed. 3 Katalogové číslo : 512823 Třídící znak : 364604 Účinnost : 2021-08-01 Věstník : 2021.07 Strany : 44 Převzata :převzetím originálu - v angličtině | ||
| Cena : | 438.00 Kč (DPH= 0%), s DPH= 438.00 Kč | |
| ANOTACE " ČSN EN IEC 60904-1 ed. 3 Tato část IEC 60904 popisuje postupy pro měření charakteristik proudového napětí (křivky I-V) fotovoltaických (PV) zařízení v přirozeném nebo simulovaném slunečním světle. Tyto postupy jsou použitelné pro jeden PV solární článek, podsestavu FV solárních článků nebo PV modul. Jsou použitelné pro jednofázové monofaciální PV zařízení. U ostatních typů zařízení se odkazuje na příslušné dokumenty, zejména u zařízení s více spoji podle IEC 60904-1-1 a u bifaciálních zařízení podle IEC TS 60904-1-2. Dále jsou poskytovány informativní přílohy týkající se měření plochy PV zařízení (příloha A), FV zařízení s kapacitou (příloha B), měření charakteristik proudového napětí-napětí (tmavé křivky IV) (příloha C) a účinků prostorové nerovnoměrnosti ozáření (Příloha D).Metody uvedené v tomto dokumentu lze také použít jako vodítko pro vytváření I-V křivek PV polí. Pro měření na místě viz IEC 61829. Tento dokument je použitelný pro nekoncentrující se fotovoltaické zařízení pro použití v pozemním prostředí, s odkazem na (obvykle, ale ne výlučně) globální referenční spektrální ozáření AM1.5 definované v IEC 60904-3. Může to být také použitelné na fotovoltaické zařízení pro použití při koncentrovaném ozáření, pokud aplikace používá přímé sluneční světlo a místo toho se odkazuje na přímou referenční spektrální ozáření AM1.5d v IEC 60904-3. Účelem tohoto dokumentu je stanovit základní požadavky na měření křivek I-V PV zařízení, definovat postupy pro různé používané měřicí techniky a ukázat postupy pro minimalizaci nejistoty měření. Je použitelný pro měření I-V křivek obecně." | ||