Nepřihlášený uživatelKOŠÍK : 0.00 Kč (počet položek : 0)

MENU

  • Titulní strana
  • Košík
  • Novinky
  • Ke stažení

Hledání

    

Sortiment - NORMY

  • Normy ČSN
  • Aktuální nabídka
  • Starší nabídky
  • Jak nakupovat

Sortiment - OSTATNÍ

  • Publikace ČNI (1)
  • Normy TPG (1)
  • Normy TNV (76)
  • Ekonomika (17)
    - SAGIT (15)
    - ANAG (1)
    - GRADA (1)
    - Ostatní (0)
  • Zdvihací zařízení (22)
  • Literatura manažer (10)
    - Jakost (3)
    - Obchod (5)
    - Různé (2)
  • Publikace ekologie (0)
  • Doplňkový prodej (1)
    - Publikace DTO CZ (0)
    - Různé (1)

OBJEDNÁVKY

  • Stav objednávky

PŘIHLÁŠENÍ

Jméno:
  Heslo:

  • Registrace
  • Zapomenuté heslo

DŮLEŽITÉ INFORMACE

  • Aktuální ceník norem
  • Obchodní podmínky
  • Ochrana osobních dat
  • FAQ nejčastější dotazy
  • Kde nás najdete

Ostatní

Tyto stránky jsou kompatibilní s
IE 6 a výše, Opera 9.02.

 

Detail zboží

364662 - ČSN EN IEC 63202-1 - Fotovoltaické články - Část 1: Měření degradace způsobené světlem fotovoltaických článků z krystalického křemíku

Název : 364662 - ČSN EN IEC 63202-1 - Fotovoltaické články - Část 1: Měření degradace způsobené světlem fotovoltaických článků z krystalického křemíku
Označení normy : ČSN EN IEC 63202-1
Katalogové číslo : 509003
Třídící znak : 364662
Účinnost : 2020-04-01
Věstník : 2020.03
Strany : 20
Převzata :vyhlášením ve Věstníku - v angličtině
Cena :228.00 Kč (DPH= 0%), s DPH= 228.00 Kč
ks
ANOTACE

"ČSN EN IEC 63202-1 (36 4662)

This part of IEC 63202 describes procedures for measuring the light-induced degradation (LID) of crystalline silicon photovoltaic (PV) cells in simulated sunlight. The magnitude of LID in a crystalline silicon PV cell is determined by comparing maximum output power at Standard Test Conditions (STC) before, and after, exposure to simulated sunlight at a specified temperature and irradiance. The purpose of this document is to provide standardized PV cell LID information to help PV module manufacturers in minimizing the mismatch between cells within the same module, thereby maximizing power yield."

Zpět

Copyright DTO CZ s.r.o.