Nepřihlášený uživatelKOŠÍK : 0.00 Kč (počet položek : 0)

MENU

  • Titulní strana
  • Košík
  • Novinky
  • Ke stažení

Hledání

    

Sortiment - NORMY

  • Normy ČSN
  • Aktuální nabídka
  • Starší nabídky
  • Jak nakupovat

Sortiment - OSTATNÍ

  • Publikace ČNI (1)
  • Normy TPG (1)
  • Normy TNV (76)
  • Ekonomika (17)
    - SAGIT (15)
    - ANAG (1)
    - GRADA (1)
    - Ostatní (0)
  • Zdvihací zařízení (22)
  • Literatura manažer (10)
    - Jakost (3)
    - Obchod (5)
    - Různé (2)
  • Publikace ekologie (0)
  • Doplňkový prodej (1)
    - Publikace DTO CZ (0)
    - Různé (1)

OBJEDNÁVKY

  • Stav objednávky

PŘIHLÁŠENÍ

Jméno:
  Heslo:

  • Registrace
  • Zapomenuté heslo

DŮLEŽITÉ INFORMACE

  • Aktuální ceník norem
  • Obchodní podmínky
  • Ochrana osobních dat
  • FAQ nejčastější dotazy
  • Kde nás najdete

Ostatní

Tyto stránky jsou kompatibilní s
IE 6 a výše, Opera 9.02.

 

Detail zboží

358799 - ČSN EN IEC 60749-18 ed. 2 - Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 18: Ionizující záření (celková dávka)

Název : 358799 - ČSN EN IEC 60749-18 ed. 2 - Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 18: Ionizující záření (celková dávka)
Označení normy : ČSN EN IEC 60749-18 ed. 2
Katalogové číslo : 509091
Třídící znak : 358799
Účinnost : 2020-01-01
Věstník : 2019.12
Strany : 32
Převzata :převzetím originálu - v angličtině
Cena :340.00 Kč (DPH= 0%), s DPH= 340.00 Kč
ks
ANOTACE

"ČSN EN IEC 60749-18 ed. 2


Tato norma stanoví zkušební postup na definování požadavků pro zkoušení zapouzdřených polovodičových integrovaných obvodů a diskrétních polovodičových součástek na účinky ionizujícího záření (celkovou dávkou) ze zdroje gama paprsku kobaltu-60 (60Co). Mohou se použít i jiné vhodné zdroje záření.

Uvádí čtyři zkoušky, které jsou uvedeny v tomto postupu:
a) standardní zkouška ozářením při pokojové teplotě;
b) zkouška ozářením při zvýšené/kryogenní teplotě;
c) zrychlená zkoušku žíháním;
d) rozšířená citlivostní zkouška při nízké intenzitě dávky (ELDRS).

Norma je určena pouze pro ustálená záření a nelze ji použít pro pulsní typy záření. Je určena pro vojenské a kosmické účely.

Zkoušky podle této normy mohou vytvářet závažné degradace elektrických vlastností ozařovaných součástek, proto jsou tyto zkoušky považovány za destruktivní."

Zpět

Copyright DTO CZ s.r.o.